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解析：提高遥测信号处理器测试性方法
时间：2016-07-21 12:59:38
可测试性定义为：产品能及时准确地确定其状态，隔离其内部故障的设计特性，以提高产品可测试性为目的而进行的设计被称为可测试性设计。可测试性是同可靠性、维修性相并列的一门新型学科，其发展和应用对于提高产品的质量，降低产品的全寿命周期费用具有重要意义。随着集成电路设计方法与工艺技术的不断进步，集成电路的可测性已经成为提高产品可靠性和成品率的重要因素。文中针对遥测产品中信号处理器的设计原理，通过增加BIT以提高信号处理器的测试覆盖率。 1 信号处理器简介 硬件电路软件化是电路设计的发展趋势。借助大规模集成的FPGA和高效的设计软件，不仅可通过直接对芯片结构的设计实现多种数字逻辑系统功能，而且由于管脚定义灵活，从而减轻了信号处理器电路图设计和电路板设计的工作量及难度。这种基于可编程逻辑器件的设计大幅减少了芯片的数量，缩小了系统的体积，提高了系统的可靠性，同时也增加了信号处理器的测试复杂度，降低了故障隔离率。 信号处理器主要完成电压模拟信号的分时采集、RS422总线信号的接收和编码输出等功能，原理框图如图1所示。 图1 信号处理器原理框图 2 信号处理器测试现状分析 信号处理器作为遥测产品的重要部件，其可测试性基本决定了遥测产品的可测试性，因此提高信号处理器的可测试性意义重大。由图1可知信号处理器需要进行测试的节点较多，主要包括多路模拟信号调理电路、交换子、A/D转换器、RS422总线接口芯片、PCM码输出电路、FPGA内部的各逻辑模块、二次电源等，共计约34个测试节点。 |
