基于STM32的智能参数测试仪的设计方案

　　0 引言

　　产品检测是生产厂家和用户都关心的问题。在产品生产过程中，检测是必不可少的一部分，有的还是工艺过程的一道工序。电磁继电器是电力系统以及其他电气控制系统中常用的开关元件，它们的可靠性是电力系统和其他电气控制系统可靠运行的重要保证，因此，必须对继电器的特性参数进行准确的测试。电磁继电器的电气参数主要有线圈电阻、触点接触电阻、吸合电压、释放电压、吸合时间、释放时间等。这些参数对研究继电器可靠性、动态性能具有重要意义，是保证其质量特性的重要参数。

　　1 系统总体架构

　　1.1 系统硬件结构

　　系统硬件主要包括UART 串口通信模块、JTAG 接口模块、测试结果显示模块、检测程序存储模块FLASH、检测电路模块以及SRAM 模块。系统总体硬件结构框图如图1 所示。

　　1.2 系统微处理器

　　本系统主要由检测部分和显示控制部分组成。在本设计中，采用了高性能的ARM Cortex 芯片STM32F103ZET6.

　　该芯片内部采用哈佛结构，其中集成有64 KB 的RAM 和512 KB FLASH，并且具有运算速度快、体积小和低功耗的特点，完全能满足本设计的要求。Cortex-M3 是一个32 位的核，它采用的是Tail-Chaining 中断技术，最多可减少12 个时钟周期数，基于硬件进行中断处理，通常可减少70% 的中断。Cortex-M3 还采用了新型的单线调试（Single Wire） 技术，可对独立的引脚进行调试。

　　1.3 系统工作流程

　　系统上电后，首先完成对各个寄存器的初始化工作，然后等待开始检测命令；单击上位机界面上的START 命令，然后上位机给单片机发送开始检测命令；单片机接到开始命令后开始向检测电路发送检测命令，然后单片机处理检测电路发回的数据，得出继电器的各个参数，通过串口把这些参数显示在上位机的界面上。